A critical review of current EL testing practices at Thai Nguyen lower secondary school (Record no. 28327)

000 -Đầu biểu
Trường điều khiển có độ dài cố định 00534nam a22001456 4500
041 ## - Mã ngôn ngữ
Mã ngôn ngữ của chính văn eng
082 ## - Ký hiệu phân loại thập phân Dewey (DDC)
Ký hiệu phân loại DDC 420.07
Cutter C928
100 ## - Tiêu đề chính--Tên cá nhân
Tên riêng Trần, Đăng Khánh Linh
245 ## - Nhan đề chính
Nhan đề chính A critical review of current EL testing practices at Thai Nguyen lower secondary school
260 ## - Địa chỉ xuất bản, phát hành
Nơi xuất bản/phát hành Ho Chi Minh City
Nhà xuất bản/phát hành University of Social sciences and Humanities (National University of Ho Chi Minh City)
Năm xuất bản/phát hành 2005
300 ## - Mô tả vật lý
Độ lớn 105 p.
Kích thước 30 cm.
500 ## - Phụ chú chung
Phụ chú chung LV 073
650 ## - Tiêu đề bổ sung chủ đề - Thuật ngữ chủ đề
Thuật ngữ chủ đề hoặc địa danh English language
Đề mục con chung EL testing
Thuật ngữ chủ đề hoặc địa danh Thai Nguyen lower secondary school
942 ## - Dạng tài liệu (KOHA)
Koha item type Luận án, luận văn

No items available.

Powered by Koha